東北大学 事業支援機構 総合技術部

岩手大学が行っている「共同利用機器担当スタッフのレベルアップ実習／TOF-SIMS測定実習編」へ表面分析チームの宍戸理恵さん、真柄英之さんが講師として参加しました。

研修は2025年3月17日、18日の二日間で開催され、岩手大学のTOF-SIMS（PHI TRIFT V nano TOF）を使用し、1日目は①原理・特性の説明、②アルミホイルの最表面分析及びデータ解析、③多層膜の深さ方向分析、2日目は①コレステロール・PEG・PTFEの最表面分析及びデータ解析、②PEG・多層膜の深さ方向分析及びデータ解析を行いました。
最表面分析では、スペクトル解析を行う際の基本的な留意点について、深さ方向分析では、スパッターレートの調整の仕方等、分析条件の設定方法について重点を置いた実習を行いました

講師2人の感想として「基本的な操作方法と適切な分析条件の出し方を身に付けていただいた。本学のTOF-SIMSとは、イオン源が異なるため、同じ試料の測定でもスペクトルの出方が違い、新たな知見を得ることができた。」とのことで、講師側にも有意義な研修になったようです。

今回の講師派遣は、総合技術部人材育成の一環として行われました。